粉末X射线衍射(XRD)

  • 已认证
  • 6
  • 北京市

  • SmartLab-9Kw

    • 小角扫描:0.5--10°

      常规广角:10--90°

      高温测试

    • 0.5°/min

      1°/min

      2°/min

      5°/min

      10°/min

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  • 仪器详情

    基本原理

    X射线与晶体相遇时,若满足布拉格方程,则在某些特殊方向上将产生强X射线衍射,衍射线的分布和强度与晶体结构密切相关。高性能的日本理学SmartLab型智能X射线衍射仪,能够用于分析金属、氧化物、纳米材料、超导材料、有机高分子等各种材料的晶体结构。

    主要特点

       ● 适用于粉末样品、块状样品、薄膜样品、微量样品

       ● 最大输出功率高达9kW,适用于微量分析、深层分析 
       ● 最高分辨率0.0002°,测量精度高 
       ● 光学元件自动识别,全自动光路校正及样品高度校正,重复性高

    应用领域

        广泛应用于物理学、化学、地矿学、药学、冶金学、高分子科学、环保、考古、生命科学以及材料科学等领域。 
        ● 计算结晶度、晶粒大小、晶胞参数精确测定 
        ● 确定晶系、畸变和微观应变测量 
        ● 粉末样品的物相定性与定量分析 
        ● 薄膜样品摇摆曲线、倒易空间图等 
        ● 薄膜反射率测试、多层膜厚度、表面粗糙度等

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