扫描电镜(SEM)

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  • 北京市

  • JSM -6700F

    • 形貌

      EDS 点扫

      EDS 线扫

      EDS 面扫

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     JSM-6700F拥有卓越的高分辨性能、先进的探测技术和友好的用户界面,使它能够精确和清楚地捕捉最短暂的瞬间。 采用了新型EXB式探测器和电子束减速功能,提高了图像质量,可同时进行微区、亚微区成分定性和定量以及元素分布分析。

    应用

    (1)形貌分析,通过形貌像可以对样品的形貌、粒径、分散性进行表征,可用于金属材料、薄膜材料、半导体材料、陶瓷材料、生物组织形貌像的观 察,同时还可对材料断口和失效进行分析(2)微区成分分析,通过对样品微区、亚微区成分进行分析定性、定量分析,可确定样品的组成。

    技术参数

    分辨率:1.0nm (15 KV);

    放大倍数:15万倍(150,000X) ;    

    电子枪:冷阴极场发射电子源 ;  

    加速电压:0.5-30kV (0.1KV/步,可变,普通模式) ;

    信号选择:二次电子模式和背散射模式,X射线信号,辅助信号 



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