透射电镜(TEM)

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  • 北京市

  • JEM-2100F

    • 形貌+高分辨(非磁性)

      EDS线扫(非磁性)

      EDS点扫(非磁性)

      EDS面扫(非磁性)

      晶格

      SAED衍射

      形貌+高分辨(磁性)

      EDS点扫(磁性)

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    JEM-2100F 应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。 利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能。 JEM-2100F最新设计的侧插式侧角台,在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘移。 SJEM-2100F可与TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera实现一体化控制。

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