原子力显微镜(AFM)

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    • 粗糙度和表面形貌

    • 粉末/溶液

      块状/膜

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    美国Dimension ICON2-SYS

    作为一种能够在原子尺度真实反应材料表面结构和性质的扫描探针显微镜,能够在大气及液体环境下准确地观测样品表面纳米尺度的三维形貌,可对样品表面物理化学特性进行研究,如表面组分区别、表面电势、磁场力和其他表面力以及相互作用力的测量;同时可以对样品表面进行纳米尺度的刻蚀和加工。


    1、主要功能及应用范围

    主要功能:接触模式,轻敲模式,智能扫描模式,磁力模式,静电力模式,液体环境测试,加热冷冻环境测试等。

    应用范围:AFM测量对样品无特殊要求,可测量固体表面、吸附体系等,可以观察样品的表面形貌,粗糙度,导电性,磁力性质,机械力学性质等。


    2、主要规格及技术指标

    (1)测量范围:X,Y方向,1~90微米;Z方向10微米。

    (2)分辨率:X,Y分辨率1nm,z方向0.25nm。


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