粉末X射线衍射(XRD)

  • 已认证
  • 6
  • 北京市

  • D8 Advance;Empyream;X' Pert-Pro MPD;SmartLab-9Kw;D/max-2500/PC

    • 小角 0.5--10°

      常规广角 5--90°

    • 0.5°/min

      1°/min

      2°/min

      5°/min

      10°/min

  • 如有多组样品,确认下单后可继续添加样品组

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    主要功能

    X射线与晶体相遇时,若满足布拉格方程,则在某些特殊方向上将产生强X射线衍射,衍射线的分布和强度与晶体结构密切相关。

    可对各种多晶样品进行物相的定性或定量分析,可用于分析金属、氧化物、纳米材料、超导材料、有机高分子等各种材料的晶体结构。适用于粉末样品、块状样品、薄膜样品、微量样品等


    测试参数

    a. 常规广角: 5--90°,小角:0.5--10°;

    b. 常用测试速率:10°/min、5°/min、2°/min、1°/min、0.5°/min;


    常见问题及回答

    1. 为什么要求XRD测试粉末样品要稍微多一些?

    因为粉末样品要铺满整个样品台,不然X射线可能会打在样品台上,影响数据质量。


    2. 为什么XRD测试要求薄膜(块体)样品尺寸要合适?

    因为放置薄膜(块体)样品的样品台尺寸是固定的,用橡皮泥来固定样品,样品太大放不进去,样品台小不好固定。


    3. 为什么XRD数据的峰强度较低,甚至没有明显的衍射峰?

    样品的衍射峰强度最主要跟样品本身的结晶度有关,其次跟样品量以及仪器的功率都有关系。

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