正电子湮没寿命谱、自由体积

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  • AMETEK ORTEC GLP-25300/13P4-S

    • 正电子湮没寿命谱

      自由体积

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    正电子湮灭寿命谱(PALS)
    正电子的存在首先由Dirac提出,在20世纪30年代通过实验得到证实。正电子是电子的反粒子。正电子与电子的碰撞将导致两个粒子湮灭和发射两个特征511-keV伽马射线。

    这种现象有助于测试量子理论关于电子和正电子与物质相互作用之间差异的预测。此外,正电子已被证明是研究各种结构和过程的有用工具。正电子的寿命可用来测量湮灭点处的局部电子密度。借助于发射的伽马射线可以轻松检测湮灭。正电子寿命技术是对单原子尺度空洞敏感的少有的几种方法之一。

    正电子寿命皮秒定时系统

    这些系统可用于测试量子理论关于电子和正电子与物质相互作用之间差异的预测,以及各种材料结构和过程的研究。从历史上看,金属缺陷研究一直是正电子寿命技术的主要应用领域。最近,这项工作已经扩展到合金和非金属以及一些生物系统的缺陷研究。


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